CN102581484B      一种利用超短脉冲激光制备硅基表面陷光结构的方法

失效
未缴年费

申请日:2012.03.02

IPC分类号:B23K26/18

公开日:20141203

申请人:江苏大学

发明人:李保家;周明;黄立静;张伟;唐万羿;马明;蔡兰

专利详情
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发明名称

一种利用超短脉冲激光制备硅基表面陷光结构的方法

技术领域

硅基表面陷光结构,特指一种利用可见/近红外超短脉冲激光诱导制备硅基表面陷光结构的方法,可适用于晶体硅和薄膜硅等硅基材料

技术问题

操作复杂、环境条件难于控制等缺点,而且SF6有毒、硫酸腐蚀性强,易污染环境和造成危险

技术方案

包括下列步骤: ① 选用超短脉冲激光器,要求其脉冲宽度为130 fs或1~2 ns、波长在400~1000 nm; ② 选用高分子透明贴膜,高分子透明贴膜耐温≧50℃、透光率≧90%、厚度≦1 mm; ③ 对硅基样品进行前期清洗; ④ 将透明贴膜紧贴于放置在样品台上的硅基样品表面上,调整样品台的位置,使上述激光器发出的激光束经透镜聚焦后的焦点位于硅基样品表面以下100~500 μm处,即硅基样品表面位于激光焦前100~500 μm处; ⑤ 调整激光器的输出,控制激光能量为10~500 μJ,扫描速度为0.1~5 mm/s; ⑥ 根据选用的激光能量确定激光束的扫描线宽,据此设定激光束的扫描路径,具体为:激光束作单向逐线扫描,通过设定线间距l来控制相邻两线相互交叠,即l大于0并小于激光扫描线宽d,各线重复扫描次数为1~5次;根据已设定的激光束扫描路径控制激光束运动,使激光束垂直于硅基样品表面进行扫描; ⑦ 取下硅基样品,揭去表面透明贴膜后对其进行后期清洗。

技术效果

操作简单、环境条件要求低,无污染、无安全隐患;不采用任何有毒或有腐蚀性的介质,最大程度地消除了环境污染和人身安全隐患。

著录项目

申请号:CN201210052373.4

公开(公告)号:CN102581484B

申请日:2012.03.02

公开(公告)日:20141203

优先权:

同族:中国

同族引用文献:6

同族施引专利:10

相关人

申请人:江苏大学

申请人地址:212013 江苏省镇江市京口区学府路301号

权利人:江苏超至和新材料有限公司

权利人地址:226600 江苏省南通市海安市胡集街道长江西路288号

发明人:李保家;周明;黄立静;张伟;唐万羿;马明;蔡兰

代理机构:南京经纬专利商标代理有限公司

代理人:楼高潮

权利要求
    1.一种利用超短脉冲激光诱导制备硅基表面陷光结构的方法,其特征在于:该方法包括下列步骤: ① 选用超短脉冲激光器,要求其脉冲宽度为130 fs或1~2 ns、波长在400~1000 nm; ② 选用高分子透明贴膜,高分子透明贴膜耐温≧50℃、透光率≧90%、厚度≦1 mm; ③ 对硅基样品进行前期清洗; ④ 将透明贴膜紧贴于放置在样品台上的硅基样品表面上,调整样品台的位置,使上述激光器发出的激光束经透镜聚焦后的焦点位于硅基样品表面以下100~500 μm处,即硅基样品表面位于激光焦前100~500 μm处; ⑤ 调整激光器的输出,控制激光能量为10~500 μJ,扫描速度为0.1~5 mm/s; ⑥ 根据选用的激光能量确定激光束的扫描线宽,据此设定激光束的扫描路径,具体为:激光束作单向逐线扫描,通过设定线间距l来控制相邻两线相互交叠,即l大于0并小于激光扫描线宽d,各线重复扫描次数为1~5次;根据已设定的激光束扫描路径控制激光束运动,使激光束垂直于硅基样品表面进行扫描; ⑦ 取下硅基样品,揭去表面透明贴膜后对其进行后期清洗。
法律信息概述
失效
未缴年费
2024.03.19
失效
2014.12.03
授权
2012.07.18
申请局首次公开
2012.03.02
授权